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ZK650数字式超声波探伤仪中科仪品牌

ZK650数字式超声波探伤仪中科仪品牌

ZK650超声波探伤仪是由中科仪品牌旗下公司自主研发生产的一款具有A扫描、B扫描、厚度B扫成像、TOFD端口以及全程连续动态实时记录检测回波数据便携式超声波探伤仪。能够快速便捷、无损伤、***地进行工件内部多种缺陷如裂纹、焊缝、气孔、砂眼、夹杂、折叠等的检测、定位、评估及诊断。

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加工定制:是类型:超声波探伤仪品牌:中科仪
型号:zk650

ZK650数字式超声波探伤仪中科仪品牌详细介绍

ZK650 超声波探伤仪是由中科仪品牌旗下公司自主研发生产的一款具有A扫描、B扫描、厚度B扫成像、TOFD端口以及全程连续动态实时记录检测回波数据便携式超声 波探伤仪。能够快速便捷、无损伤、***地进行工件内部多种缺陷如裂纹、焊缝、气孔、砂眼、夹杂、折叠等的检测、定位、评估及诊断。

产品特点
A扫、B扫描成像,可连接扫查架使成像更***;
TOGD端口,可升级为TOFD超声;
全程连续动态实时记录检测回波数据及控制参数,存储空间为32G;
***亮阳光彩色7寸液晶显示器;
旋钮、按键操作两种方式;

自动功能
自动校准:自动测试“探头零点”、“K值”、“前沿”及“材料声速”; 
自动显示缺陷回波位置(深度d、水平p、距离s、波幅、当量dB、孔径ф值); 
自由切换三种标尺(深度d、水平p、距离s),满足不同的探伤标准要求和探伤工程师的标尺使用习惯; 
自动增益:自动将波形调至屏高的80%,大大提高了探伤效率; 
自动录制探伤过程并可以进行动态回放,录制时间***制;
自动Φ值计算:直探头锻件探伤,找准缺陷波自动换算孔径Φ值;
自动DAC、AVG曲线自动生成取样点不受限制,并可进行修正与补偿,满足任意探伤标准;
自动分析并显示回放参数,自动生成探伤报告;

探伤功能
回波包络:实时检索并记录缺陷波;
Φ值计算:直探头锻件探伤找准缺陷波自动换算;
缺陷定位:实时显示水平值L、深度值H、声程值S;
缺陷定量:实时显示SL、EL、GL、RL定量值;
实时显示孔状缺陷Φ值;
缺陷定性:自动显示缺陷大小,位置;

数据存储
150个独立探伤通道,可自由输入任意行业探伤标准,方便存储、调用;
3000幅探伤波形及数据,实现存储、调出、打印、与计算机通讯传输;

主要技术参数
工作频率:0.4~20MHz,分宽、窄带两档;
增益范围:0.0~110.0dB。步进值:0.1、1.0、2.0、6.0dB;
声速范围:300~99999m/s。连续可调;
检测范围: 0~10000mm(钢纵波)。连续可调,最小步进值0.1mm;
检波方式:正半波、负半波、全波、射频;
脉冲移位:-45~8850mm;
探头零值:0~99.9us;
脉冲重复频率:25~1000Hz,自动、手动两种调节方式;
屏幕保护:待机时可关闭屏幕或显示字幕,省电并延长使用寿命;
发射电压:25V~250V,步进值为25V;
工作方式:单、双、穿透;
发射阻尼:400、100Ω;
垂直线性误差:≤2.5% ;
水平线性误差:≤0.1% ;
灵敏度余量:>63dB(200Φ2平底孔);
分辨率:>42dB(使用5P14探头);
动态范围:≥38dB;
抑   制:(0-99)% ,不影响线性与增益;
电   源:两种供电方式:大容量锂电池,无记忆效应、连续工作6小时以上;

成像技术参数
扫描延时:0~500us可控0.008us精度;
扫查定位:时基(内置实时时钟-0.02秒精度)/真实位置(增量编码器-0.5mm精度);
成像模式:根据选择的操作模式和相应的仪器设置显示厚度B扫、B扫、TOFD成像;
直线扫查长度:50~2000mm自动滚屏;
记录方法:完全原始数据记录;
离线分析:恢复和回放扫查时记录的A扫波形;
缺陷尺寸和轮廓;
厚度/幅度数据统计分析;
记录转换到探伤报告


主机功能参数

成像功能

频谱分析

-

扫查架

TOFD端口

脉冲幅度

可调

脉冲宽度

可调

检测范围

0--10000 mm

频带范围

0.4-20 MHz

显示屏

LED液晶(工业)

DAC曲线

AVG曲线

标准

可适应任何标准

闸门报警

曲线报警

波形冻结

通道

150

波形

3800

录像

可全程录像

自动校准

噪声抑制

波峰记忆

回波包络

厚度B扫

自动增益

回波编码

计算孔径

裂纹测深

曲面修正

分析软件

电池模块

1

标准配置

仪器主机  直探头 斜探头  探头连接线缆  电池模块  电源适配器(充电器) 随机资料(产品说明书、保修卡


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